Device line characterization of Gunn diodes using six-port techniques

Fadhel Ghannouchi, Rénato Bosisio

Communication écrite (1993)

Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Voir chez l'éditeur officiel
Département:
Département de génie électrique
ISBN:
0780312295
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/75145/
Nom de la conférence:
Instrumentation and Measurement Technology Conference 1993
Lieu de la conférence:
Irvine, CA, USA
Date(s) de la conférence:
1993-05-18 - 1993-05-20
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/imtc.1993.382627
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/imtc.1993.382627
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75145
ORCID
Date du dépôt:
30 mars 2026 12:06
Dernière modification:
08 oct. 2026 19:05
Citer en APA 7:
Ghannouchi, F., & Bosisio, R. (mai 1993). Device line characterization of Gunn diodes using six-port techniques [Communication écrite]. Instrumentation and Measurement Technology Conference 1993, Irvine, CA, USA. https://doi.org/10.1109/imtc.1993.382627

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document