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A six-port reflectometer with a variable test port impedance suitable for nonlinear microwave device characterization

Fadhel Ghannouchi et Rénato Bosisio

Communication écrite (1991)

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Département: Département de génie électrique
ISBN: 0879425792
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/75142/
Nom de la conférence: Instrumentation and Measurement Technology Conference
Lieu de la conférence: Atlanta, GA, USA
Date(s) de la conférence: 1991-05-14 - 1991-05-16
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/imtc.1991.161571
URL officielle: https://doi.org/10.1109/imtc.1991.161571
Date du dépôt: 30 mars 2026 12:20
Dernière modification: 30 mars 2026 12:20
Citer en APA 7: Ghannouchi, F., & Bosisio, R. (mai 1991). A six-port reflectometer with a variable test port impedance suitable for nonlinear microwave device characterization [Communication écrite]. Instrumentation and Measurement Technology Conference, Atlanta, GA, USA. https://doi.org/10.1109/imtc.1991.161571

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