Simulation of Single Particle Displacement Damage in Si₁₋ₓGeₓ Alloys—Interaction of Primary Particles With the Material and Generation of the Damage Structure

Thomas Jarrin, Antoine Jay, Mélanie Raine, Normand Mousseau, Anne Hémeryck, Nicolas Richard

Article de revue (2020)

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Mots clés

Département:
Département de génie physique
Unité de recherche:
RQMP - Regroupement québécois sur les matériaux de pointe
Organismes subventionnaires:
Towards Understanding and Modelling Intense Electronic Excitation (TUMIEE), European Cooperation in Science and Technology (COST)
Numéro de subvention:
CA17126
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/74709/
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Nuclear Science ( vol. 67 , no 7 )
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tns.2020.2970488
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/tns.2020.2970488
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74709
ORCID
Date du dépôt:
03 août 2026 15:59
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:36
Citer en APA 7:
Jarrin, T., Jay, A., Raine, M., Mousseau, N., Hémeryck, A., & Richard, N. (2020). Simulation of Single Particle Displacement Damage in Si₁₋ₓGeₓ Alloys—Interaction of Primary Particles With the Material and Generation of the Damage Structure. IEEE Transactions on Nuclear Science, 67(7), 1273-1283. https://doi.org/10.1109/tns.2020.2970488

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