Simulation of Single Particle Displacement Damage in Si₁₋ₓGeₓ Alloys—Interaction of Primary Particles With the Material and Generation of the Damage Structure

Thomas Jarrin, Antoine Jay, Mélanie Raine, Normand Mousseau, Anne Hémeryck et Nicolas Richard

Article de revue (2020)

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Mots clés

• Computational Mechanics
• Electrical and Electronic Engineering
• Silicon and Solar Cell Technologies
• Ion-surface interactions and analysis
• Radiation Effects in Electronics

Département:	Département de génie physique
Centre de recherche:	RQMP - Regroupement québécois sur les matériaux de pointe
Organismes subventionnaires:	Towards Understanding and Modelling Intense Electronic Excitation (TUMIEE), European Cooperation in Science and Technology (COST)
Numéro de subvention:	CA17126
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/74709/
Titre de la revue:	IEEE Transactions on Nuclear Science (vol. 67, no 7)
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/tns.2020.2970488
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/tns.2020.2970488
Date du dépôt:	03 août 2026 15:59
Dernière modification:	03 août 2026 15:59

Citer en APA 7:	Jarrin, T., Jay, A., Raine, M., Mousseau, N., Hémeryck, A., & Richard, N. (2020). Simulation of Single Particle Displacement Damage in Si₁₋ₓGeₓ Alloys—Interaction of Primary Particles With the Material and Generation of the Damage Structure. IEEE Transactions on Nuclear Science, 67(7), 1273-1283. https://doi.org/10.1109/tns.2020.2970488
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