Maria Vanessa Balois, Norihiko Hayazawa, Alvarado Tarun, Oussama Moutanabbir et Satoshi Kawata
Communication écrite (2013)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie physique |
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| ISBN: | 9784863483699 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/74564/ |
| Nom de la conférence: | JSAP-OSA Joint Symposia 2013 |
| Lieu de la conférence: | Kyoto, Japan |
| Date(s) de la conférence: | 2013-09-16 - 2013-09-20 |
| Maison d'édition: | Optical Society of America |
| DOI: | 10.1364/jsap.2013.19a_d5_9 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1364/jsap.2013.19a_d5_9 |
| Date du dépôt: | 12 août 2026 15:54 |
| Dernière modification: | 12 août 2026 15:54 |
| Citer en APA 7: | Balois, M. V., Hayazawa, N., Tarun, A., Moutanabbir, O., & Kawata, S. (septembre 2013). Precise and stable polarization control in a tightly focusing system for accurate characterization of strained Silicon nanostructures [Communication écrite]. JSAP-OSA Joint Symposia 2013, Kyoto, Japan. https://doi.org/10.1364/jsap.2013.19a_d5_9 |
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