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Micro-Structural Analysis of AlN Wafer Bonding and Hydrogen Ion-Induced Splitting for Film Exfoliation

M. Abdullah Mamun, Kanda Tapliy, Oussama Moutanabbir, Diefeng Gu, Helmut Baumgart et Abedlmageed Elmustafa

Article de revue (2012)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

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URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/74561/
Titre de la revue: ECS Meeting Abstracts (vol. MA2012-02, no 40)
Maison d'édition: Institute of Physics
DOI: 10.1149/ma2012-02/40/2984
URL officielle: https://doi.org/10.1149/ma2012-02/40/2984
Date du dépôt: 30 juil. 2026 15:14
Dernière modification: 30 juil. 2026 15:14
Citer en APA 7: Mamun, M. A., Tapliy, K., Moutanabbir, O., Gu, D., Baumgart, H., & Elmustafa, A. (2012). Micro-Structural Analysis of AlN Wafer Bonding and Hydrogen Ion-Induced Splitting for Film Exfoliation. ECS Meeting Abstracts, MA2012-02(40), 2984 (1 page). https://doi.org/10.1149/ma2012-02/40/2984

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