M. Abdullah Mamun, Kanda Tapliy, Oussama Moutanabbir, Diefeng Gu, Helmut Baumgart et Abedlmageed Elmustafa
Article de revue (2012)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
Un lien externe est disponible pour ce document| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/74561/ |
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| Titre de la revue: | ECS Meeting Abstracts (vol. MA2012-02, no 40) |
| Maison d'édition: | Institute of Physics |
| DOI: | 10.1149/ma2012-02/40/2984 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1149/ma2012-02/40/2984 |
| Date du dépôt: | 30 juil. 2026 15:14 |
| Dernière modification: | 30 juil. 2026 15:14 |
| Citer en APA 7: | Mamun, M. A., Tapliy, K., Moutanabbir, O., Gu, D., Baumgart, H., & Elmustafa, A. (2012). Micro-Structural Analysis of AlN Wafer Bonding and Hydrogen Ion-Induced Splitting for Film Exfoliation. ECS Meeting Abstracts, MA2012-02(40), 2984 (1 page). https://doi.org/10.1149/ma2012-02/40/2984 |
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