Giovanni Beltrame
, C. Bolchini, L. Fossati, A. Miele et D. Sciuto
Communication écrite (2007)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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| ISBN: | 9780769528854 |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/74207/ |
| Nom de la conférence: | 22nd International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007) |
| Lieu de la conférence: | Rome, Italy |
| Date(s) de la conférence: | 2007-09-26 - 2007-09-28 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/dft.2007.35 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dft.2007.35 |
| Date du dépôt: | 11 août 2026 16:37 |
| Dernière modification: | 11 août 2026 16:37 |
| Citer en APA 7: | Beltrame, G., Bolchini, C., Fossati, L., Miele, A., & Sciuto, D. (septembre 2007). A Framework for Reliability Assessment and Enhancement in Multi-Processor Systems-On-Chip [Communication écrite]. 22nd International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007), Rome, Italy. https://doi.org/10.1109/dft.2007.35 |
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