Giovanni Beltrame
, C. Bolchini, L. Fossati, A. Miele, D. Sciuto
Communication écrite (2007)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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ISBN:
9780769528854
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
22nd International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007)
Lieu de la conférence:
Rome, Italy
Date(s) de la conférence:
2007-09-26 - 2007-09-28
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74207
ORCID
Date du dépôt:
11 août 2026 16:37
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:35
Citer en APA 7:
Beltrame, G., Bolchini, C., Fossati, L., Miele, A., & Sciuto, D. (septembre 2007). A Framework for Reliability Assessment and Enhancement in Multi-Processor Systems-On-Chip [Communication écrite]. 22nd International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007), Rome, Italy. https://doi.org/10.1109/dft.2007.35
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