Serge Gaiotti, Michel R. Dagenais et Nicholas Rumin
Communication écrite (1989)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| ISBN: | 0897913108 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/74093/ |
| Nom de la conférence: | 26th Design Automation Conference (DAC 1989) |
| Lieu de la conférence: | Las Vegas, NV, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1989-06-25 - 1989-06-28 |
| Maison d'édition: | Association for Computing Machinery |
| DOI: | 10.1145/74382.74464 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1145/74382.74464 |
| Date du dépôt: | 13 avr. 2026 14:05 |
| Dernière modification: | 13 avr. 2026 14:05 |
| Citer en APA 7: | Gaiotti, S., Dagenais, M. R., & Rumin, N. (juin 1989). Worst-case delay estimation of transistor groups [Communication écrite]. 26th Design Automation Conference (DAC 1989), Las Vegas, NV, USA. https://doi.org/10.1145/74382.74464 |
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