A Monte Carlo code to simulate the effect of fast secondary electrons on κAB factors and spatial resolution in the TEM

Raynald Gauvin, Gilles L'Espérance

Article de revue (1992)

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Mots clés

Département:
Département de mathématiques et de génie industriel
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/69820/
Titre de la revue :
Journal of Microscopy ( vol. 168 , no 2 )
Maison d'édition:
Wiley
DOI:
10.1111/j.1365-2818.1992.tb03258.x
URL officielle:
https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1992.tb03258.x
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:69820
ORCID
Date du dépôt:
24 nov. 2025 10:12
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:30
Citer en APA 7:
Gauvin, R., & L'Espérance, G. (1992). A Monte Carlo code to simulate the effect of fast secondary electrons on κAB factors and spatial resolution in the TEM. Journal of Microscopy, 168(2), 153-167. https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1992.tb03258.x

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