A Monte Carlo code to simulate the effect of fast secondary electrons on κAB factors and spatial resolution in the TEM

Raynald Gauvin et Gilles L'Espérance

Article de revue (1992)

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Département:	Département de mathématiques et de génie industriel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/69820/
Titre de la revue:	Journal of Microscopy (vol. 168, no 2)
Maison d'édition:	Wiley
DOI:	10.1111/j.1365-2818.1992.tb03258.x
URL officielle:	https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1992.tb03258.x
Date du dépôt:	24 nov. 2025 10:12
Dernière modification:	24 nov. 2025 10:12

Citer en APA 7:	Gauvin, R., & L'Espérance, G. (1992). A Monte Carlo code to simulate the effect of fast secondary electrons on κAB factors and spatial resolution in the TEM. Journal of Microscopy, 168(2), 153-167. https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1992.tb03258.x
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