Investigation of intrinsic crystalline Si(111) and amorphous silicon surfaces in air with STM

A. M. Okoniewski et Arthur Yelon

Article de revue (1988)

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Département:	Département de génie physique
Centre de recherche:	GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/69819/
Titre de la revue:	Journal of Microscopy (vol. 152, no 2)
Maison d'édition:	Wiley
DOI:	10.1111/j.1365-2818.1988.tb01411.x
URL officielle:	https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1988.tb01411.x
Date du dépôt:	24 nov. 2025 10:21
Dernière modification:	24 nov. 2025 10:21

Citer en APA 7:	Okoniewski, A. M., & Yelon, A. (1988). Investigation of intrinsic crystalline Si(111) and amorphous silicon surfaces in air with STM. Journal of Microscopy, 152(2), 481-486. https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1988.tb01411.x
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