Materials-related aspects of reliability of fracture-sensitive structures

D. Robert Hay

Article de revue (1978)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/69569/
Titre de la revue:	Microelectronics Reliability (vol. 17, no 1)
Maison d'édition:	Elsevier BV
DOI:	10.1016/0026-2714(78)91152-6
URL officielle:	https://doi.org/10.1016/0026-2714%2878%2991152-6
Date du dépôt:	26 nov. 2025 10:37
Dernière modification:	26 nov. 2025 10:37

Citer en APA 7:	Hay, D. R. (1978). Materials-related aspects of reliability of fracture-sensitive structures. Microelectronics Reliability, 17(1), 179-184. https://doi.org/10.1016/0026-2714%2878%2991152-6
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