Adam Bergeron
Masters thesis (1998)
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Cite this document: | Bergeron, A. (1998). Etude ellipsométrique de l'interface entre des substrats polymériques et des couches optiques déposées par plasma (Masters thesis, École Polytechnique de Montréal). Retrieved from https://publications.polymtl.ca/6876/ |
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Abstract
Bases expérimentales et théoriques -- L'interaction du plasma avec une surface polymérique -- L'ellipsométrie spectroscopique et la caractérisation optique -- Méthodologie expérimentale et caractérisations préliminaires -- Mesures optiques effectuées -- La caractérisation optique des substrats -- Le réacteur plasma -- L'étude ellipsométrique des prétraitements -- L'étude ellipsométriques in-situ -- Les techniques complémentaires -- Étude des prétraitements -- Caractérisation optique -- Étude in-situ de prétraitements sur polycarbonate -- Autres techniques de caractérisation -- Discussion globale de l'étude des prétraitements -- Étude de l'Interface Couche/Substrat -- Caractérisation optique -- Observations TEM -- Étude in-situ de dépôts de SiN1.3 sur polycarbonate -- Discussion de la structure de l'interface -- Effets de l'Interface sur les filtres optiques -- Les filtres interférentiels -- Simulations -- Tests avec des couches antiréfléchissantes.
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Additional Information: | Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/50440752 |
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Department: | Département de génie physique |
Date Deposited: | 04 Aug 2021 11:05 |
Last Modified: | 25 Aug 2021 14:57 |
PolyPublie URL: | https://publications.polymtl.ca/6876/ |
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