Mengzhen Wang, Ruizhi Liu, Weijian Si, Ke Wu
Communication écrite (2025)
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Nom de la conférence:
IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series On Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP 2025)
Lieu de la conférence:
Wuxi, China
Date(s) de la conférence:
2025-07-23 - 2025-07-26
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:68149
ORCID
Date du dépôt:
02 sept. 2025 13:53
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:28
Citer en APA 7:
Wang, M., Liu, R., Si, W., & Wu, K. (juillet 2025). Radiation Characteristic Prediction by Equivalent Huygens' Source Method [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series On Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP 2025), Wuxi, China. https://doi.org/10.1109/imws-amp66175.2025.11136657
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