Mengzhen Wang, Ruizhi Liu, Weijian Si et Ke Wu
Communication écrite (2025)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/68149/ |
| Nom de la conférence: | IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series On Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP 2025) |
| Lieu de la conférence: | Wuxi, China |
| Date(s) de la conférence: | 2025-07-23 - 2025-07-26 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/imws-amp66175.2025.11136657 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/imws-amp66175.2025.1113665... |
| Date du dépôt: | 02 sept. 2025 13:53 |
| Dernière modification: | 02 sept. 2025 13:53 |
| Citer en APA 7: | Wang, M., Liu, R., Si, W., & Wu, K. (juillet 2025). Radiation Characteristic Prediction by Equivalent Huygens' Source Method [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series On Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP 2025), Wuxi, China. https://doi.org/10.1109/imws-amp66175.2025.11136657 |
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