Ahmet S. Özcan, Karl Ludwig, C. Lavoie, Soumendra N. Basu, Cédrik Coia, C. Cabral, Kenneth P. Rodbell, J. M. E. Harper
Article de revue (2004)
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Titre de la revue
:
Thin Solid Films
(
vol.
466
,
no
1-2
)
Maison d'édition:
Elsevier BV
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:67641
ORCID
Date du dépôt:
14 août 2025 16:01
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:28
Citer en APA 7:
Özcan, A. S., Ludwig, K., Lavoie, C., Basu, S. N., Coia, C., Cabral, C., Rodbell, K. P., & E. Harper, J. M. (2004). Evolution of microstructure in Ti–Ta bilayer thin films on polycrystalline-Si and Si(001). Thin Solid Films, 466(1-2), 238-249. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2004.02.022
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