Tungadri Bose, Richard Chahine, M. Merabet, Cevdet Akyel et Rénato Bosisio
Article de revue (1987)
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| Renseignements supplémentaires: | Laboratoire d'Hyperfréquences |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/62890/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Electrical Insulation (vol. EI-22, no 1) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/tei.1987.298963 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tei.1987.298963 |
| Date du dépôt: | 21 févr. 2025 10:16 |
| Dernière modification: | 21 févr. 2025 10:16 |
| Citer en APA 7: | Bose, T., Chahine, R., Merabet, M., Akyel, C., & Bosisio, R. (1987). Computer-Based Permittivity Measurements and Analysis of Microwave Power Absorption in Conductive Dielectrics. IEEE Transactions on Electrical Insulation, EI-22(1), 41-46. https://doi.org/10.1109/tei.1987.298963 |
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