Computer-Based Permittivity Measurements and Analysis of Microwave Power Absorption in Conductive Dielectrics

Tungadri Bose, Richard Chahine, M. Merabet, Cevdet Akyel, Rénato Bosisio

Article de revue (1987)

Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Voir chez l'éditeur officiel
Renseignements supplémentaires:
Laboratoire d'Hyperfréquences
Département:
Département de génie physique
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/62890/
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Electrical Insulation ( vol. EI-22 , no 1 )
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tei.1987.298963
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/tei.1987.298963
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:62890
ORCID
Date du dépôt:
21 févr. 2025 10:16
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:23
Citer en APA 7:
Bose, T., Chahine, R., Merabet, M., Akyel, C., & Bosisio, R. (1987). Computer-Based Permittivity Measurements and Analysis of Microwave Power Absorption in Conductive Dielectrics. IEEE Transactions on Electrical Insulation, EI-22(1), 41-46. https://doi.org/10.1109/tei.1987.298963

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document