N. C. Rumin, Michel Dagenais et W. Zhang
Communication écrite (1991)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie électrique |
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/62833/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991) |
| Lieu de la conférence: | Singapore |
| Date(s) de la conférence: | 1991-06-11 - 1991-06-14 |
| Titre de la revue: | 1991 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/iscas.1991.176713 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.1991.176713 |
| Date du dépôt: | 21 févr. 2025 10:16 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:31 |
| Citer en APA 7: | Rumin, N. C., Dagenais, M., & Zhang, W. (juin 1991). Transistor-level CMOS gate models for timing analysis and simulation [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991), Singapore. Publié dans 1991 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS). https://doi.org/10.1109/iscas.1991.176713 |
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