Gilles L'Espérance, Jean-Paul Bailon, Olivier Sioui-Latulippe, John Hunt et Sander Gubbens
Article de revue (2016)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de mathématiques et de génie industriel |
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Centre de recherche: | (CM)² - Centre de caractérisation microscopique des matériaux |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/61773/ |
Titre de la revue: | Microscopy and Microanalysis (vol. 22, no S3) |
Maison d'édition: | Oxford University Press |
DOI: | 10.1017/s1431927616003962 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1017/s1431927616003962 |
Date du dépôt: | 08 janv. 2025 11:07 |
Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:30 |
Citer en APA 7: | L'Espérance, G., Bailon, J.-P., Sioui-Latulippe, O., Hunt, J., & Gubbens, S. (2016). Design of a HAADF Detector for Z Contrast in SEM. Microscopy and Microanalysis, 22(S3), 622-623. https://doi.org/10.1017/s1431927616003962 |
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