P. Wolfshagen, Maurice Chartrand
Rapport technique (1977)
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Résumé
Le spectre -- Le traitement de données -- Lissage -- Recherche des pics -- Utilisation de la première dérivée -- Utilisation de la deuxième dérivée -- Utilisation de la transformée de Fourier -- Sélection des pics -- Étalonnage -- Programme et résultats -- Cas des pics simples -- Cas des doublets.
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Numéro du rapport:
EP-R-77-36
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:6147
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Date du dépôt:
15 avr. 2021 15:13
Dernière modification:
14 oct. 2026 10:45
Citer en APA 7:
Wolfshagen, P., & Chartrand, M. (1977). Analyse de spectres de fluorescence-X relevés à l'aide de détecteur au Si(Li). (Rapport technique n° EP-R-77-36). https://publications.polymtl.ca/6147/
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