Analyse de spectres de fluorescence-X relevés à l'aide de détecteur au Si(Li)

Rapport technique (1977)

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Résumé

Le spectre -- Le traitement de données -- Lissage -- Recherche des pics -- Utilisation de la première dérivée -- Utilisation de la deuxième dérivée -- Utilisation de la transformée de Fourier -- Sélection des pics -- Étalonnage -- Programme et résultats -- Cas des pics simples -- Cas des doublets.

Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/6147/
Numéro du rapport:	EP-R-77-36
Date du dépôt:	15 avr. 2021 15:13
Dernière modification:	09 avr. 2024 15:02

Citer en APA 7:	Wolfshagen, P., & Chartrand, M. (1977). Analyse de spectres de fluorescence-X relevés à l'aide de détecteur au Si(Li). (Rapport technique n° EP-R-77-36). https://publications.polymtl.ca/6147/

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