Analyse de spectres de fluorescence-X relevés à l'aide de détecteur au Si(Li)

Technical Report (1977)

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Résumé

Le spectre -- Le traitement de données -- Lissage -- Recherche des pics -- Utilisation de la première dérivée -- Utilisation de la deuxième dérivée -- Utilisation de la transformée de Fourier -- Sélection des pics -- Étalonnage -- Programme et résultats -- Cas des pics simples -- Cas des doublets.

Department:	Department of Engineering Physics
PolyPublie URL:	https://publications.polymtl.ca/6147/
Report number:	EP-R-77-36
Date Deposited:	15 Apr 2021 15:13
Last Modified:	11 Nov 2022 13:27

Cite in APA 7:	Wolfshagen, P., & Chartrand, M. (1977). Analyse de spectres de fluorescence-X relevés à l'aide de détecteur au Si(Li) (Technical Report n° EP-R-77-36). https://publications.polymtl.ca/6147/

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