P. Wolfshagen and Maurice Chartrand
Technical Report (1977)
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Résumé
Le spectre -- Le traitement de données -- Lissage -- Recherche des pics -- Utilisation de la première dérivée -- Utilisation de la deuxième dérivée -- Utilisation de la transformée de Fourier -- Sélection des pics -- Étalonnage -- Programme et résultats -- Cas des pics simples -- Cas des doublets.
| Department: | Department of Engineering Physics |
|---|---|
| PolyPublie URL: | https://publications.polymtl.ca/6147/ |
| Report number: | EP-R-77-36 |
| Date Deposited: | 15 Apr 2021 15:13 |
| Last Modified: | 07 Oct 2024 16:58 |
| Cite in APA 7: | Wolfshagen, P., & Chartrand, M. (1977). Analyse de spectres de fluorescence-X relevés à l'aide de détecteur au Si(Li). (Technical Report n° EP-R-77-36). https://publications.polymtl.ca/6147/ |
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