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Analyse de spectres de fluorescence-X relevés à l'aide de détecteur au Si(Li)

P. Wolfshagen and Maurice Chartrand

Technical Report (1977)

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Cite this document: Wolfshagen, P. & Chartrand, M. (1977). Analyse de spectres de fluorescence-X relevés à l'aide de détecteur au Si(Li) (Technical Report n° EP-R-77-36).
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Abstract

Le spectre -- Le traitement de données -- Lissage -- Recherche des pics -- Utilisation de la première dérivée -- Utilisation de la deuxième dérivée -- Utilisation de la transformée de Fourier -- Sélection des pics -- Étalonnage -- Programme et résultats -- Cas des pics simples -- Cas des doublets.

Open Access document in PolyPublie
Department: Département de génie physique
Date Deposited: 15 Apr 2021 15:13
Last Modified: 15 Jul 2021 17:02
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/6147/
Document issued by the official publisher
Report number: EP-R-77-36

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