P. Wolfshagen et Maurice Chartrand
Rapport technique (1977)
Accès restreint: Utilisateurs inscrits ou accès depuis Polytechnique Montréal Version officielle de l'éditeur Conditions d'utilisation: Tous droits réservés Télécharger (10MB) Demander document |
Afficher le résumé
Cacher le résumé
Résumé
Le spectre -- Le traitement de données -- Lissage -- Recherche des pics -- Utilisation de la première dérivée -- Utilisation de la deuxième dérivée -- Utilisation de la transformée de Fourier -- Sélection des pics -- Étalonnage -- Programme et résultats -- Cas des pics simples -- Cas des doublets.
Département: | Département de génie physique |
---|---|
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/6147/ |
Numéro du rapport: | EP-R-77-36 |
Date du dépôt: | 15 avr. 2021 15:13 |
Dernière modification: | 09 avr. 2024 15:02 |
Citer en APA 7: | Wolfshagen, P., & Chartrand, M. (1977). Analyse de spectres de fluorescence-X relevés à l'aide de détecteur au Si(Li). (Rapport technique n° EP-R-77-36). https://publications.polymtl.ca/6147/ |
---|---|
Statistiques
Total des téléchargements à partir de PolyPublie
Téléchargements par année
Provenance des téléchargements