A Machine Learning Based Approach to Detect Machine Learning Design Patterns

Pan, Weitao; Washizaki, Hironori; Yoshioka, Nobukazu; Fukazawa, Yoshiaki; Khomh, Foutse; Guéhéneuc, Yann-Gaël; Pan, Weitao; Washizaki, Hironori; Yoshioka, Nobukazu; Fukazawa, Yoshiaki; Khomh, Foutse; Guéhéneuc, Yann-Gaël

A Machine Learning Based Approach to Detect Machine Learning Design Patterns

Weitao Pan, Hironori Washizaki, Nobukazu Yoshioka, Yoshiaki Fukazawa, Foutse Khomh , Yann-Gaël Guéhéneuc

Communication écrite (2023)

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Renseignements supplémentaires:

Groupe de recherche: SWAT Lab

Département:

Département de génie informatique et génie logiciel

Unité de recherche:

Autre

ISBN:

9798350344172

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/58470/

Nom de la conférence:

30th Asia-Pacific Software Engineering Conference (APSEC 2023)

Lieu de la conférence:

Seoul, Korea, Republic of Seoul

Date(s) de la conférence:

2023-12-04 - 2023-12-07

Maison d'édition:

IEEE

DOI:

10.1109/apsec60848.2023.00073

URL officielle:

https://doi.org/10.1109/apsec60848.2023.00073

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:58470

ORCID

Date du dépôt:

03 juin 2024 14:54

Dernière modification:

14 oct. 2026 14:18

Citer en APA 7:

Pan, W., Washizaki, H., Yoshioka, N., Fukazawa, Y., Khomh, F., & Guéhéneuc, Y.-G. (décembre 2023). A Machine Learning Based Approach to Detect Machine Learning Design Patterns [Communication écrite]. 30th Asia-Pacific Software Engineering Conference (APSEC 2023), Seoul, Korea, Republic of Seoul. https://doi.org/10.1109/apsec60848.2023.00073

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