A Machine Learning Based Approach to Detect Machine Learning Design Patterns

Weitao Pan, Hironori Washizaki, Nobukazu Yoshioka, Yoshiaki Fukazawa, Foutse Khomh et Yann-Gaël Guéhéneuc

Communication écrite (2023)

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Renseignements supplémentaires:	Groupe de recherche: SWAT Lab
Département:	Département de génie informatique et génie logiciel
Centre de recherche:	Autre
ISBN:	9798350344172
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/58470/
Nom de la conférence:	30th Asia-Pacific Software Engineering Conference (APSEC 2023)
Lieu de la conférence:	Seoul, Korea, Republic of Seoul
Date(s) de la conférence:	2023-12-04 - 2023-12-07
Maison d'édition:	IEEE
DOI:	10.1109/apsec60848.2023.00073
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/apsec60848.2023.00073
Date du dépôt:	03 juin 2024 14:54
Dernière modification:	08 avr. 2025 14:40

Citer en APA 7:	Pan, W., Washizaki, H., Yoshioka, N., Fukazawa, Y., Khomh, F., & Guéhéneuc, Y.-G. (décembre 2023). A Machine Learning Based Approach to Detect Machine Learning Design Patterns [Communication écrite]. 30th Asia-Pacific Software Engineering Conference (APSEC 2023), Seoul, Korea, Republic of Seoul. https://doi.org/10.1109/apsec60848.2023.00073
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