Sébastien Delprat, M. Ouaddari, François Vidal, Mohamed Chaker, Ke Wu
Article de revue (2003)
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Titre de la revue
:
IEEE Microwave and Wireless Components Letters
(
vol.
13
,
no
6
)
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:55771
ORCID
Date du dépôt:
02 oct. 2023 08:35
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:14
Citer en APA 7:
Delprat, S., Ouaddari, M., Vidal, F., Chaker, M., & Wu, K. (2003). Voltage and frequency dependent dielectric properties of BST-0.5 thin films on alumina substrates. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 13(6), 211-213. https://doi.org/10.1109/lmwc.2003.814091
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