Sébastien Delprat, M. Ouaddari, François Vidal, Mohamed Chaker et Ke Wu
Article de revue (2003)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/55771/ |
| Titre de la revue: | IEEE Microwave and Wireless Components Letters (vol. 13, no 6) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/lmwc.2003.814091 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/lmwc.2003.814091 |
| Date du dépôt: | 02 oct. 2023 08:35 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:47 |
| Citer en APA 7: | Delprat, S., Ouaddari, M., Vidal, F., Chaker, M., & Wu, K. (2003). Voltage and frequency dependent dielectric properties of BST-0.5 thin films on alumina substrates. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 13(6), 211-213. https://doi.org/10.1109/lmwc.2003.814091 |
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