Multiple-Trapping Model with Meyer-Neldel Effect and Field-Dependent Effects: Time-Of-Flight Simulations for a-Si:H

Jesse Maassen, Arthur Yelon, Louis-André Hamel et Wen Chao Chen

Article de revue (2005)

Un lien externe est disponible pour ce document

Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/55618/
Titre de la revue:	MRS Proceedings (vol. 862)
Maison d'édition:	Cambridge University Press
DOI:	10.1557/proc-862-a15.2
URL officielle:	https://doi.org/10.1557/proc-862-a15.2
Date du dépôt:	19 sept. 2023 14:10
Dernière modification:	25 sept. 2024 16:47

Citer en APA 7:	Maassen, J., Yelon, A., Hamel, L.-A., & Chao Chen, W. (2005). Multiple-Trapping Model with Meyer-Neldel Effect and Field-Dependent Effects: Time-Of-Flight Simulations for a-Si:H. MRS Proceedings, 862. https://doi.org/10.1557/proc-862-a15.2
APA 7 (HTML)ASCII CitationAtomBibTeXDOIsDublin CoreEndNote (.ENW)MARC (ISO 2709/UTF-8) (.MRC)MARC (UTF-8) (.MRK8)MARC XMLMPEG-21 DIDLMultiline CSVOAI-ORE Resource Map (Atom Format)OPENAIREOpenURL ContextObjectOpenURL ContextObject in SpanRDF+N-TriplesRDF+N3RDF+XMLReferReference Manager (.RIS)Répertoire des publications (EndNote)Simple Metadata

Statistiques

Actions réservées au personnel