Joannie Desroches, Michael Jermyn, Eric Marple, Kirk Urmey, Gilles Soulez, Marie-Christine Guiot, Brian C. Wilson, Kevin Petrecca, Frédéric Leblond
, Tuan Vo-Dinh, Anita Mahadevan-Jansen, Warren S. Grundfest
Présentation (2018)
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Nom de la conférence:
SPIE BiOS
Lieu de la conférence:
San Francisco, California, United States
Date(s) de la conférence:
2018-01-30 - 2018-02-02
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SPIE
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URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:52565
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Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:10
Citer en APA 7:
Desroches, J., Jermyn, M., Marple, E., Urmey, K., Soulez, G., Guiot, M.-C., Wilson, B. C., Petrecca, K., Leblond, F., Vo-Dinh, T., Mahadevan-Jansen, A., & Grundfest, W. S. (janvier 2018). Integrated Raman biopsy probe for high yield targeted brain cancer biopsies (Conference Presentation) [Présentation]. Dans SPIE BiOS, San Francisco, California, United States. https://doi.org/10.1117/12.2290189
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