Integrated Raman biopsy probe for high yield targeted brain cancer biopsies (Conference Presentation)

Joannie Desroches, Michael Jermyn, Eric Marple, Kirk Urmey, Gilles Soulez, Marie-Christine Guiot, Brian C. Wilson, Kevin Petrecca, Frédéric Leblond, Tuan Vo-Dinh, Anita Mahadevan-Jansen et Warren S. Grundfest

Présentation (2018)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/52565/
Nom de la conférence:	SPIE BiOS
Lieu de la conférence:	San Francisco, California, United States
Date(s) de la conférence:	2018-01-30 - 2018-02-02
Maison d'édition:	SPIE
DOI:	10.1117/12.2290189
URL officielle:	https://doi.org/10.1117/12.2290189
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:57

Citer en APA 7:	Desroches, J., Jermyn, M., Marple, E., Urmey, K., Soulez, G., Guiot, M.-C., Wilson, B. C., Petrecca, K., Leblond, F., Vo-Dinh, T., Mahadevan-Jansen, A., & Grundfest, W. S. (janvier 2018). Integrated Raman biopsy probe for high yield targeted brain cancer biopsies (Conference Presentation) [Présentation]. Dans SPIE BiOS, San Francisco, California, United States. https://doi.org/10.1117/12.2290189
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