<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Integrated Raman biopsy probe for high yield targeted brain cancer biopsies (Conference Presentation)

Joannie Desroches, Michael Jermyn, Eric Marple, Kirk Urmey, Gilles Soulez, Marie-Christine Guiot, Brian C. Wilson, Kevin Petrecca, Frédéric Leblond, Tuan Vo-Dinh, Anita Mahadevan-Jansen et Warren S. Grundfest

Présentation (2018)

Un lien externe est disponible pour ce document
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/52565/
Nom de la conférence: SPIE BiOS
Lieu de la conférence: San Francisco, California, United States
Date(s) de la conférence: 2018-01-30 - 2018-02-02
Maison d'édition: SPIE
DOI: 10.1117/12.2290189
URL officielle: https://doi.org/10.1117/12.2290189
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:03
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:43
Citer en APA 7: Desroches, J., Jermyn, M., Marple, E., Urmey, K., Soulez, G., Guiot, M.-C., Wilson, B. C., Petrecca, K., Leblond, F., Vo-Dinh, T., Mahadevan-Jansen, A., & Grundfest, W. S. (janvier 2018). Integrated Raman biopsy probe for high yield targeted brain cancer biopsies (Conference Presentation) [Présentation]. Dans SPIE BiOS, San Francisco, California, United States. https://doi.org/10.1117/12.2290189

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document