Joannie Desroches, Michael Jermyn, Eric Marple, Kirk Urmey, Gilles Soulez, Marie-Christine Guiot, Brian C. Wilson, Kevin Petrecca, Frédéric Leblond, Tuan Vo-Dinh, Anita Mahadevan-Jansen et Warren S. Grundfest
Présentation (2018)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/52565/ |
Nom de la conférence: | SPIE BiOS |
Lieu de la conférence: | San Francisco, California, United States |
Date(s) de la conférence: | 2018-01-30 - 2018-02-02 |
Maison d'édition: | SPIE |
DOI: | 10.1117/12.2290189 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1117/12.2290189 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:03 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:43 |
Citer en APA 7: | Desroches, J., Jermyn, M., Marple, E., Urmey, K., Soulez, G., Guiot, M.-C., Wilson, B. C., Petrecca, K., Leblond, F., Vo-Dinh, T., Mahadevan-Jansen, A., & Grundfest, W. S. (janvier 2018). Integrated Raman biopsy probe for high yield targeted brain cancer biopsies (Conference Presentation) [Présentation]. Dans SPIE BiOS, San Francisco, California, United States. https://doi.org/10.1117/12.2290189 |
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