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Ellipsometric Characterization of the Optical Constants of Metals: Thin Film versus Nanoparticle

Dan Dalacu et Ludvik Martinu

Chapitre de livre (2002)

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Renseignements supplémentaires: Metallization of polymers 2. Montréal workshop on Polymer metallization held in Montréal in June 2001.
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/52519/
Éditeurs ou éditrices: Edward Sacher
Maison d'édition: Springer
DOI: 10.1007/978-1-4615-0563-1_2
URL officielle: https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0563-1_2
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:20
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:43
Citer en APA 7: Dalacu, D., & Martinu, L. (2002). Ellipsometric Characterization of the Optical Constants of Metals: Thin Film versus Nanoparticle. Dans Sacher, E. (édit.), Metallization of Polymers 2 (p. 11-22). https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0563-1_2

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