Thomas E. Davies, He Li, Stephanie Bessette, Raynald Gauvin, Gregory Scott Patience et Nicholas F. Dummer
Article de revue (2022)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie chimique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/50788/ |
Titre de la revue: | Canadian Journal of Chemical Engineering (vol. 100, no 11) |
Maison d'édition: | Wiley |
DOI: | 10.1002/cjce.24405 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1002/cjce.24405 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 14:58 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:41 |
Citer en APA 7: | Davies, T. E., Li, H., Bessette, S., Gauvin, R., Patience, G. S., & Dummer, N. F. (2022). Experimental methods in chemical engineering: Scanning electron microscopy and X-ray ultra-microscopy-SEM and XuM. Canadian Journal of Chemical Engineering, 100(11), 3145-3159. https://doi.org/10.1002/cjce.24405 |
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