Thomas E. Davies, He Li, Stéphanie Bessette, Raynald Gauvin, Gregory Scott Patience
et Nicholas F. Dummer
Article de revue (2022)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie chimique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/50788/ |
| Titre de la revue: | Canadian Journal of Chemical Engineering (vol. 100, no 11) |
| Maison d'édition: | Wiley |
| DOI: | 10.1002/cjce.24405 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1002/cjce.24405 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 14:58 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:18 |
| Citer en APA 7: | Davies, T. E., Li, H., Bessette, S., Gauvin, R., Patience, G. S., & Dummer, N. F. (2022). Experimental methods in chemical engineering: Scanning electron microscopy and X-ray ultra-microscopy-SEM and XuM. Canadian Journal of Chemical Engineering, 100(11), 3145-3159. https://doi.org/10.1002/cjce.24405 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
