Thomas E. Davies, He Li, Stéphanie Bessette, Raynald Gauvin, Gregory Scott Patience
, Nicholas F. Dummer
Article de revue (2022)
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Titre de la revue
:
Canadian Journal of Chemical Engineering
(
vol.
100
,
no
11
)
Maison d'édition:
Wiley
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:50788
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 14:58
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:07
Citer en APA 7:
Davies, T. E., Li, H., Bessette, S., Gauvin, R., Patience, G. S., & Dummer, N. F. (2022). Experimental methods in chemical engineering: Scanning electron microscopy and X-ray ultra-microscopy-SEM and XuM. Canadian Journal of Chemical Engineering, 100(11), 3145-3159. https://doi.org/10.1002/cjce.24405
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