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Documents dont l'auteur est "Dummer, Nicholas F."

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Davies, T. E., Li, H., Bessette, S., Gauvin, R., Patience, G. S., & Dummer, N. F. (2022). Experimental methods in chemical engineering: Scanning electron microscopy and X-ray ultra-microscopy-SEM and XuM. Canadian Journal of Chemical Engineering, 100(11), 3145-3159. Lien externe

Liste produite: Fri Apr 19 04:06:59 2024 EDT.
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