Eran Hershko, Lucien Weiss
, Tomer Michaeli et Yoav Shechtman
Article de revue (2019)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
Un lien externe est disponible pour ce document
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/49594/ |
|---|---|
| Titre de la revue: | Optics Express (vol. 27, no 5) |
| Maison d'édition: | OSA |
| DOI: | 10.1364/oe.27.006158 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1364/oe.27.006158 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:02 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:16 |
| Citer en APA 7: | Hershko, E., Weiss, L., Michaeli, T., & Shechtman, Y. (2019). Multicolor localization microscopy and point-spread-function engineering by deep learning. Optics Express, 27(5), 6158-6183. https://doi.org/10.1364/oe.27.006158 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
