Eran Hershko, Lucien Weiss, Tomer Michaeli et Yoav Shechtman
Article de revue (2019)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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Titre de la revue: | Optics Express (vol. 27, no 5) |
Maison d'édition: | OSA |
DOI: | 10.1364/oe.27.006158 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1364/oe.27.006158 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:02 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:39 |
Citer en APA 7: | Hershko, E., Weiss, L., Michaeli, T., & Shechtman, Y. (2019). Multicolor localization microscopy and point-spread-function engineering by deep learning. Optics Express, 27(5), 6158-6183. https://doi.org/10.1364/oe.27.006158 |
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