Younes Seyedi, Houshang Karimi, Santiago Grijalva, Jean Mahseredjian
et Brunilde Sanso
Article de revue (2021)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/49073/ |
| Titre de la revue: | IEEE Systems Journal (vol. 16, no 3) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/jsyst.2021.3112710 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/jsyst.2021.3112710 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:00 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:38 |
| Citer en APA 7: | Seyedi, Y., Karimi, H., Grijalva, S., Mahseredjian, J., & Sanso, B. (2021). A Supervised Learning Approach for Centralized Fault Localization in Smart Microgrids. IEEE Systems Journal, 16(3), 4060-4070. https://doi.org/10.1109/jsyst.2021.3112710 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
