Younes Seyedi, Houshang Karimi, Santiago Grijalva, Jean Mahseredjian
, Brunilde Sanso
Article de revue (2021)
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Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Systems Journal
(
vol.
16
,
no
3
)
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:49073
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:00
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:04
Citer en APA 7:
Seyedi, Y., Karimi, H., Grijalva, S., Mahseredjian, J., & Sanso, B. (2021). A Supervised Learning Approach for Centralized Fault Localization in Smart Microgrids. IEEE Systems Journal, 16(3), 4060-4070. https://doi.org/10.1109/jsyst.2021.3112710
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