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Characterization of Multilayer Ferromagnetic Nanowire Arrays Using Off-Axis Electron Holography

A. Akhtari Zavareh, T. Kasama, L. P. Carignan, Arthur Yelon, David Ménard, R. Herring, R. Dunin-Borkowski, M. McCartney et K. Kavanagh

Résumé (2013)

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Renseignements supplémentaires: In conjunction with : 71st annual meeting of Microscopy Society of America, 47th annual meeting of Microanalysis Society, 46th annual meeting of International Metallographic Society.
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/48602/
Nom de la conférence: 2013 Microscopy and Microanalysis Meeting (M&M 2013)
Lieu de la conférence: Indianapolis Indiana
Date(s) de la conférence: 2013-08-04 - 2013-08-08
Titre de la revue: Microscopy and Microanalysis (vol. 19, no S2)
Maison d'édition: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927613008933
URL officielle: https://doi.org/10.1017/s1431927613008933
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:07
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:50
Citer en APA 7: Akhtari Zavareh, A., Kasama, T., Carignan, L. P., Yelon, A., Ménard, D., Herring, R., Dunin-Borkowski, R., McCartney, M., & Kavanagh, K. (août 2013). Characterization of Multilayer Ferromagnetic Nanowire Arrays Using Off-Axis Electron Holography [Résumé]. 2013 Microscopy and Microanalysis Meeting (M&M 2013), Indianapolis Indiana. Publié dans Microscopy and Microanalysis, 19(S2). https://doi.org/10.1017/s1431927613008933

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