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Technique for Eliminating Resonant Artifacts in Low Loss Material Measurement

MuhibUr Rahman et Ke Wu

Communication écrite (2021)

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Département: Département de génie électrique
Centre de recherche: POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/48162/
Nom de la conférence: 50th European Microwave Conference (EuMC 2020)
Lieu de la conférence: Utrecht, Netherlands
Date(s) de la conférence: 2021-01-12 - 2021-01-14
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.23919/eumc48046.2021.9338154
URL officielle: https://doi.org/10.23919/eumc48046.2021.9338154
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:00
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:37
Citer en APA 7: Rahman, M.U., & Wu, K. (janvier 2021). Technique for Eliminating Resonant Artifacts in Low Loss Material Measurement [Communication écrite]. 50th European Microwave Conference (EuMC 2020), Utrecht, Netherlands. https://doi.org/10.23919/eumc48046.2021.9338154

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