Technique for Eliminating Resonant Artifacts in Low Loss Material Measurement

MuhibUr Rahman, Ke Wu

Communication écrite (2021)

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ISBN:
9782874870590
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
50th European Microwave Conference (EuMC 2020)
Lieu de la conférence:
Utrecht, Netherlands
Date(s) de la conférence:
2021-01-12 - 2021-01-14
Maison d'édition:
IEEE
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:48162
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:00
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:03
Citer en APA 7:
Rahman, M.U., & Wu, K. (janvier 2021). Technique for Eliminating Resonant Artifacts in Low Loss Material Measurement [Communication écrite]. 50th European Microwave Conference (EuMC 2020), Utrecht, Netherlands. https://doi.org/10.23919/eumc48046.2021.9338154

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