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Etching the oxide barrier of micrometer-scale self-organized porous anodic alumina membranes

Jonathan Bellemare, Louis-Philippe Carignan, Frédéric Sirois et David Ménard

Article de revue (2015)

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Abstract

We develop a quantitative model to calculate the optimal experimental conditions for the etching of the oxide barrier of porous anodic alumina (PAA) membranes. The method is applied to a membrane fabricated at 370 V in a solution of 2% citric acid. The process creates a network of small pores at the bottom of the larger pores, which accelerates the oxide barrier etching relatively to the pore walls of the PAA membranes, when etched in a solution of phosphoric acid. The oxide barrier etching is confirmed by observation of PAA membranes using scanning electron microscopy, revealing the formation of the small pores and the preferential etching of the bottom of the pores rather than the pore walls. The proposed method, which leads to a better control over the fabrication of nanoporous templates, can be adapted to oxide barriers of different PAA membranes formed at different voltages and in different acids.

Mots clés

Computer systems organization; Architectures ; Other architectures; High-level language architectures; Reconfigurable computing; Hardware; Integrated circuits; Reconfigurable logic and FPGAs; Reconfigurable logic applications; Networks; Network architectures; Programming interfaces

Sujet(s): 3100 Physique > 3100 Physique
3100 Physique > 3101 Études atomiques et moléculaires
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/4777/
Titre de la revue: Journal of The Electrochemical Society (vol. 162, no 4)
Maison d'édition: IOP Science
DOI: 10.1149/2.0791504jes
URL officielle: https://doi.org/10.1149/2.0791504jes
Date du dépôt: 07 avr. 2021 11:08
Dernière modification: 09 avr. 2024 01:14
Citer en APA 7: Bellemare, J., Carignan, L.-P., Sirois, F., & Ménard, D. (2015). Etching the oxide barrier of micrometer-scale self-organized porous anodic alumina membranes. Journal of The Electrochemical Society, 162(4), E47-E50. https://doi.org/10.1149/2.0791504jes

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