Article de revue (2020)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Département:
Unité de recherche:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
(
vol.
11
,
no
1
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:47064
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:01
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:01
Citer en APA 7:
Zhu, H.-T., & Wu, K. (2020). Complex Permittivity Measurement of Dielectric Substrate in Sub-THz Range. IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, 11(1), 2-15. https://doi.org/10.1109/tthz.2020.3036181
Statistiques
Dimensions
