Article de revue (2020)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/47064/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology (vol. 11, no 1) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tthz.2020.3036181 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tthz.2020.3036181 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:35 |
| Citer en APA 7: | Zhu, H.-T., & Wu, K. (2020). Complex Permittivity Measurement of Dielectric Substrate in Sub-THz Range. IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, 11(1), 2-15. https://doi.org/10.1109/tthz.2020.3036181 |
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