Coupled Broad Ion Beam-Scanning Electron Microscopy (BIB-SEM) for polishing and three dimensional (3D) serial section tomography (SST)

Gholinia, Ali; Curd, Matthew E.; Bousser, Étienne; Taylor, Kevin; Hosman, Thijs; Coyle, Steven; Shearer, Michael Hassel; Hunt, John; Withers, Philip J.; Gholinia, Ali; Curd, Matthew E.; Bousser, Étienne; Taylor, Kevin; Hosman, Thijs; Coyle, Steven; Shearer, Michael Hassel; Hunt, John; Withers, Philip J.

Coupled Broad Ion Beam-Scanning Electron Microscopy (BIB-SEM) for polishing and three dimensional (3D) serial section tomography (SST)

Ali Gholinia, Matthew E. Curd, Étienne Bousser, Kevin Taylor, Thijs Hosman, Steven Coyle, Michael Hassel Shearer, John Hunt, Philip J. Withers

Article de revue (2020)

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Département:

Département de génie physique

Unité de recherche:

LaRFIS - Laboratoire des Revêtements Fonctionnels et Ingénierie des Surfaces

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/45962/

Titre de la revue :

Ultramicroscopy ( vol. 214 )

Maison d'édition:

Elsevier

DOI:

10.1016/j.ultramic.2020.112989

URL officielle:

https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2020.112989

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:45962

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:00

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:59

Citer en APA 7:

Gholinia, A., Curd, M. E., Bousser, É., Taylor, K., Hosman, T., Coyle, S., Shearer, M. H., Hunt, J., & Withers, P. J. (2020). Coupled Broad Ion Beam-Scanning Electron Microscopy (BIB-SEM) for polishing and three dimensional (3D) serial section tomography (SST). Ultramicroscopy, 214, UNSP 11298 (13 pages). https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2020.112989

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