Ali Gholinia, Matthew E. Curd, Étienne Bousser, Kevin Taylor, Thijs Hosman, Steven Coyle, Michael Hassel Shearer, John Hunt et Philip J. Withers
Article de revue (2020)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| Centre de recherche: | LaRFIS - Laboratoire des Revêtements Fonctionnels et Ingénierie des Surfaces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/45962/ |
| Titre de la revue: | Ultramicroscopy (vol. 214) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/j.ultramic.2020.112989 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2020.112989 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:00 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:34 |
| Citer en APA 7: | Gholinia, A., Curd, M. E., Bousser, É., Taylor, K., Hosman, T., Coyle, S., Shearer, M. H., Hunt, J., & Withers, P. J. (2020). Coupled Broad Ion Beam-Scanning Electron Microscopy (BIB-SEM) for polishing and three dimensional (3D) serial section tomography (SST). Ultramicroscopy, 214, UNSP 11298 (13 pages). https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2020.112989 |
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