Pierre-Louis M. Brunner, Jean-Philippe Masse, Gilles L'Espérance
et James D. Wuest
Article de revue (2020)
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| Département: | Département de mathématiques et de génie industriel |
|---|---|
| Centre de recherche: | (CM)² - Centre de caractérisation microscopique des matériaux |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/45835/ |
| Titre de la revue: | Canadian Journal of Chemistry (vol. 98, no 9) |
| Maison d'édition: | Canadian Science Publishing |
| DOI: | 10.1139/cjc-2020-0102 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1139/cjc-2020-0102 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:00 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:45 |
| Citer en APA 7: | Brunner, P.-L. M., Masse, J.-P., L'Espérance, G., & Wuest, J. D. (2020). Imaging layers in thin-film molecular devices by transmission electron microscopy, using milling by focused ion beams and deposition on NaCl and Si. Canadian Journal of Chemistry, 98(9), 582-588. https://doi.org/10.1139/cjc-2020-0102 |
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