Pierre-Louis M. Brunner, Jean-Philippe Masse, Gilles L'Espérance
, James D. Wuest
Article de revue (2020)
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Titre de la revue
:
Canadian Journal of Chemistry
(
vol.
98
,
no
9
)
Maison d'édition:
Canadian Science Publishing
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:45835
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:00
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:59
Citer en APA 7:
Brunner, P.-L. M., Masse, J.-P., L'Espérance, G., & Wuest, J. D. (2020). Imaging layers in thin-film molecular devices by transmission electron microscopy, using milling by focused ion beams and deposition on NaCl and Si. Canadian Journal of Chemistry, 98(9), 582-588. https://doi.org/10.1139/cjc-2020-0102
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