Haotian Zhu, Jules Gauthier et Ke Wu
Article de revue (2020)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/45810/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology (vol. 10, no 6) |
| Maison d'édition: | IEEE Microwave Theory and Techniques Society |
| DOI: | 10.1109/tthz.2020.3013802 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tthz.2020.3013802 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:45 |
| Citer en APA 7: | Zhu, H., Gauthier, J., & Wu, K. (2020). Silicon Probe Measurement and Characterization in Sub-THz Range. IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, 10(6), 606-616. https://doi.org/10.1109/tthz.2020.3013802 |
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