Haotian Zhu, Jules Gauthier, Ke Wu
Article de revue (2020)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Département:
Unité de recherche:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
(
vol.
10
,
no
6
)
Maison d'édition:
IEEE Microwave Theory and Techniques Society
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:45810
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:01
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:59
Citer en APA 7:
Zhu, H., Gauthier, J., & Wu, K. (2020). Silicon Probe Measurement and Characterization in Sub-THz Range. IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, 10(6), 606-616. https://doi.org/10.1109/tthz.2020.3013802
Statistiques
Dimensions
