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Silicon Probe Measurement and Characterization in Sub-THz Range

Haotian Zhu, Jules Gauthier et Ke Wu

Article de revue (2020)

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Département: Département de génie électrique
Centre de recherche: POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/45810/
Titre de la revue: IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology (vol. 10, no 6)
Maison d'édition: IEEE Microwave Theory and Techniques Society
DOI: 10.1109/tthz.2020.3013802
URL officielle: https://doi.org/10.1109/tthz.2020.3013802
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:01
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:33
Citer en APA 7: Zhu, H., Gauthier, J., & Wu, K. (2020). Silicon Probe Measurement and Characterization in Sub-THz Range. IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, 10(6), 606-616. https://doi.org/10.1109/tthz.2020.3013802

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