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Caractérisation des particules nanométriques non intentionnelles émises dans différents milieux de travail

Maximilien Debia, Cyril Catto, Alan Fleck, Jean-Philippe Masse, Gilles L'Espérance et Brigitte Roberge

Rapport technique (2019)

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Département: Département de mathématiques et de génie industriel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/44086/
Numéro du rapport: R-1075
URL officielle: https://doi.org/10.70010/ztdf4470
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:01
Dernière modification: 25 août 2026 13:07
Citer en APA 7: Debia, M., Catto, C., Fleck, A., Masse, J.-P., L'Espérance, G., & Roberge, B. (2019). Caractérisation des particules nanométriques non intentionnelles émises dans différents milieux de travail. (Rapport technique n° R-1075). https://doi.org/10.70010/ztdf4470

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