Maximilien Debia, Cyril Catto, Alan Fleck, Jean-Philippe Masse, Gilles L'Espérance et Brigitte Roberge
Rapport technique (2019)
| Département: | Département de mathématiques et de génie industriel |
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/44086/ |
| Numéro du rapport: | R-1075 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.70010/ztdf4470 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
| Dernière modification: | 25 août 2026 13:07 |
| Citer en APA 7: | Debia, M., Catto, C., Fleck, A., Masse, J.-P., L'Espérance, G., & Roberge, B. (2019). Caractérisation des particules nanométriques non intentionnelles émises dans différents milieux de travail. (Rapport technique n° R-1075). https://doi.org/10.70010/ztdf4470 |
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