<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Caractérisation des particules nanométriques non intentionnelles émises dans différents milieux de travail

Maximilien Debia, Cyril Catto, Alan Fleck, Jean-Philippe Masse, Gilles L'Espérance et Brigitte Roberge

Rapport technique (2019)

Un lien externe est disponible pour ce document
Département: Département de mathématiques et de génie industriel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/44086/
Numéro du rapport: R-1075
URL officielle: https://www.irsst.qc.ca/media/documents/PubIRSST/R...
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:01
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:31
Citer en APA 7: Debia, M., Catto, C., Fleck, A., Masse, J.-P., L'Espérance, G., & Roberge, B. (2019). Caractérisation des particules nanométriques non intentionnelles émises dans différents milieux de travail. (Rapport technique n° R-1075). https://www.irsst.qc.ca/media/documents/PubIRSST/R-1075.pdf?v=2019-09-14

Statistiques

Aucune statistique n'est disponible.

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document