Maximilien Debia, Cyril Catto, Alan Fleck, Jean-Philippe Masse, Gilles L'Espérance et Brigitte Roberge
Rapport technique (2019)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de mathématiques et de génie industriel |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/44086/ |
Numéro du rapport: | R-1075 |
URL officielle: | https://www.irsst.qc.ca/media/documents/PubIRSST/R... |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:31 |
Citer en APA 7: | Debia, M., Catto, C., Fleck, A., Masse, J.-P., L'Espérance, G., & Roberge, B. (2019). Caractérisation des particules nanométriques non intentionnelles émises dans différents milieux de travail. (Rapport technique n° R-1075). https://www.irsst.qc.ca/media/documents/PubIRSST/R-1075.pdf?v=2019-09-14 |
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