On the Design of New Integrated Microprobes (NIMPs) for Non-Linear On-Wafer Device Characterization

Xu, Yi; Maurin, D.; Wu, Ke; Huyart, B.; Klemer, D.; Bosisio, Rénato; Xu, Yi; Maurin, D.; Wu, Ke; Huyart, B.; Klemer, D.; Bosisio, Rénato

On the Design of New Integrated Microprobes (NIMPs) for Non-Linear On-Wafer Device Characterization

Yi Xu, D. Maurin, Ke Wu , B. Huyart, D. Klemer, Rénato Bosisio

Communication écrite (1993)

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Département:

Département de génie électrique

ISBN:

0780356861

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/43921/

Nom de la conférence:

41st ARFTG Conference Digest - Spring 1993

Lieu de la conférence:

Atlanta, GA, United states

Date(s) de la conférence:

1993-06-18

Maison d'édition:

IEEE

DOI:

10.1109/arftg.1993.327020

URL officielle:

https://doi.org/10.1109/arftg.1993.327020

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:43921

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:26

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:56

Citer en APA 7:

Xu, Y., Maurin, D., Wu, K., Huyart, B., Klemer, D., & Bosisio, R. (juin 1993). On the Design of New Integrated Microprobes (NIMPs) for Non-Linear On-Wafer Device Characterization [Communication écrite]. 41st ARFTG Conference Digest - Spring 1993, Atlanta, GA, United states. https://doi.org/10.1109/arftg.1993.327020

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