F. Cléton, B. Sieber, A. Bensaada, Rémo A. Masut
, J. M. Bonard, J. D. Ganière
Article de revue (1996)
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Titre de la revue
:
Journal of Applied Physics
(
vol.
80
,
no
2
)
Maison d'édition:
American Institute of Physics
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43246
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:55
Citer en APA 7:
Cléton, F., Sieber, B., Bensaada, A., Masut, R. A., Bonard, J. M., & Ganière, J. D. (1996). Transmission electron microscopy and cathodoluminescence of tensile‐strained GaₓIn₁₋ₓP/InP heterostructures. II. On the origin of luminescence heterogeneities in tensile stress relaxed GaₓIn₁₋ₓP/InP heterostructures. Journal of Applied Physics, 80(2), 837-845. https://doi.org/10.1063/1.362893
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